評価・分析・解析部会 第12回部会集会・特別講演会「広島大放射光センターにおける軟X線域での蛍光X線・XAFS測定」

第164回秋季講演大会中に、評価・分析・解析部会の部会集会にて特別講演会を開催いたします。皆様お誘い合わせの上、多数ご出席くださいますようご案内いたします。 1.日　時： 2012年9月17日(月)　15:30～16:30　（内　講演は40分程度） 2.場　所： 第164回秋季講演大会　第18会場 （愛媛大学　総合研究棟2 27番講義室） 3.特別講演会： 1)講師：早川慎二郎（広島大学） 2)講演概要：｢広島大放射光センターにおける軟X線域での蛍光X線・XAFS測定」 近年では放射光の産業利用が盛んになり、X線吸収微細構造（XAFS）測定は元素選択的な局所構造解析、化学状態分析として広く認識されるようになった。一方で、放射光は分析装置としては高価で利用頻度が限られるため、その汎用化が強く望まれている。SPring-8やESRF(欧州)のような第3世代の放射光源では、6GeV以上の高エネルギー電子蓄積リングが建設されたが、リングの建設・運転コストが高額であるため、最近の放射光源では2-3GeV程度の電子蓄積リングと挿入型光源の組み合わせで高輝度の硬X線を発生させている。 広島大学は学内に放射光リング（HiSOR）を保有する唯一の国立大学であり、２つの直線部を有するレーストラック型の小型放射光リング（0.7GeV）を用いて軟X線域での利用研究を展開している。利用するエネルギー域や目的に応じて様々なビームラインが存在しているが、本講演ではSi(111)２結晶分光器を用いて2.1keVから5.9keVの軟X線を利用するビームライン（BL11）での蛍光X線・XAFS測定について紹介する。 BL11でカバーする元素（吸収端）はK殻ではPからTi、L殻ではSrからI程度であり、ヘリウム置換したチャンバーに試料を設置して測定を行うことで、帯電が問題となる試料や液体試料も測定対象となる。XAFS測定には透過法、蛍光X線収量法に加えて、転換電子収量法も同時に利用できるため、測定法による分析深さの違いを利用して表面近傍やバルクのスペクトルを比較することができる。硫黄化合物のK殻およびRh,PdのL殻XAFSスペクトルなどを取り上げ、得られる情報とその応用について紹介する。 問合せ先： 　　(一社)日本鉄鋼協会 　　学会・生産技術部門事務局 龍(ﾘｮｳ)　淳子 　　TEL:03-3669-5932