| 開催日時: | 2007年11月9日(金)10:00～17:00 ～ 11月10日(土)10:00～17:00 |
| 開催場所: | 大阪府立大学 工学部B5棟3B-37室(堺市中区学園町1-1) |
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| プログラム: |
| (11月9日) |
| 10:00～12:30 | 【講 義】透過型電子顕微鏡の仕組みと電子線回折と結像の基礎 |
| 13:30～17:00 | 【実 習】課題1:金属組織観察の実際、課題2:半導体薄膜の観察 |
| (11月10日) |
| 10:00～12:30 | 【講 義】位相コントラスト法及び走査型透過電子顕微鏡法 |
| 13:30～17:00 | 【実 習】課題1:金属組織観察の実際,課題2:半導体薄膜の観察 |
| (注:実習は2班に分かれ、第一日と第二日で課題を入れ換えて行います) |
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| 講 師: | 今野豊彦(東北大学)、森 茂生、津田 大(大阪府立大学) |
| 募集人員: | 20名 |
| 参加費用: | 会員20,000円、非会員30,000円、学生2,000円(テキスト代・消費税込み) |
| 内 容: | 構造材料から機能材料まで材料の有する諸特性を制御する基本は、その材料の構造と組織を理解することにあります。この目的を達成するために用いられるのが透過型電子顕微鏡(TEM)です。近年のナノテクノロジーの台頭により、この TEM の重要性はますます高まってきています。一方、いくつものレンズから構成される TEM を使いこなし、またデータを正しく解釈するためには電子線光学や結晶回折学に基づいた基礎知識が不可欠です。本セミナーでは、これまで TEM を扱ったことのない研究者の方々、これから TEM をさらに使いこなしたい研究者の方々を対象に TEM の光学系、電子線と物質との相互作用、電子線回折や各種コントラストの結像過程を解説するとともに、半導体や金属といった典型的な材料を実際に観察することによって、TEM の特徴を理解し、材料開発の現場においてこの装置を正しく使うための基本を学ぶことを目的としています。 |
| 申込要領: | 申込み書に必要事項を記入の上、お申込下さい。申込は先着順とします。申込書の必要事項が記載された電子メールを n-kansai@ostec.or.jp 宛にお送りいただいても受付をいたします。
締切りは各コース開催の2週間前といたします。
以後の連絡および受講料の支払い方法については後日連絡いたします。
申込み書はこちらから印刷してお使い下さい。(PDF形式) |
